在永川科技的前沿电阻抗成像(EIT)创新技术与平台的支持下,合作单位四医大团队深入探索了《Electrical Impedance Tomography Provides Information of Brain Injury During Total Aortic Arch Replacement Through Its Correlation with Relative Difference of Neurological Biomarkers》的开创性研究。这项研究不仅标志着EIT在心脏大血管手术监测中的重要价值,也为脑损伤的早期识别与干预开辟了新的路径。
在本研究中,研究团队深入挖掘了体外循环期间收集的EIT数据,并提取多个特征参数,深入分析了这些EIT参数与血清中四种关键神经系统生物标志物之间的关联性,旨在探索EIT参数作为全主动脉弓置换术(TAAR)患者术后神经功能损伤(PND)早期预警指标的潜力。结果表明,左侧与右侧大脑之间EIT的差异与PND相关性显著,具有实时反映缺氧缺血性脑损伤及脑灌注状态的潜力。
相关研究已经发表在Scientifc Reports | (2024) 14:14236 | [1]
依托永川科技的EH-300高端设备,另一家合作医院在前期扩大应用的基础上[2],成功获批了省部级研究项目,彰显了合作医院卓越的科研实力与创新能力,也是对永川科技创新技术和设备的认可。该项目聚焦于急性脑损伤的EIT快速检测与应用,是颅脑疾病精准、快速、无创诊疗的关键。通过该项目的实施,预期能够显著提升EIT在急性脑损伤检测监测中的临床应用价值,为医生提供便携无创、及时可达的早诊、分诊技术和方法。
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参考文献:
1、YitongGuo, et. al. Electrical impedance tomography provides information of brain injury duringtotal aortic arch replacement through its correlation with relative diference of neurological biomarkers. Scientifc Reports | (2024) 14:14236 | .https://doi.org/10.1038/s41598-024-65203-0
2、Jieshi Ma, et. al. Exploratory study of a multifrequency EIT-based method for detecting intracranial abnormalities. Front. Neurol. 14:1210991. Doi: 10.3389/fneur.2023.1210991